Kompakte Photorelais für Hochtemperatur-Testsysteme

Automatisierte Testsysteme und Automotive-Elektronik erfordern zunehmend kompakte Schaltkomponenten, die auch unter hohen thermischen Belastungen zuverlässig arbeiten. In diesem Zusammenhang stellte Toshiba Electronics Europe GmbH eine neue Serie von Photorelais vor, die für Hochtemperaturbetrieb und platzkritische Leiterplattendesigns in Test- und Messanwendungen entwickelt wurden.

Umgang mit thermischen Anforderungen in Automotive- und Testelektronik
Die neuen Photorelais – TLP3407SRB, TLP3412SRB, TLP3412SRHB und TLP3412SRLB – sind für Betriebstemperaturen bis zu 135 °C ausgelegt und übertreffen damit den typischen Wert vergleichbarer Bauteile von 125 °C. Diese Temperaturfestigkeit ermöglicht den Einsatz in thermisch anspruchsvollen Umgebungen wie Automotive-Halbleitertestsystemen, Burn-in-Anlagen und elektronischen Testboards.

Solche Einsatzbereiche gewinnen mit der zunehmenden Elektrifizierung und der Entwicklung autonomer Fahrfunktionen an Bedeutung, da hierdurch die Prüfanforderungen für Leistungselektronik und Halbleiterkomponenten innerhalb des Automotive-Datenökosystems steigen.

Die Bauteile sind in einem S-VSON4T-Gehäuse mit Abmessungen von etwa 1,45 × 2,0 mm untergebracht, was kompakte Leiterplattenlayouts bei begrenztem Bauraum unterstützt.

Vereinfachte Schaltungsentwicklung durch integrierte Komponenten
Die Photorelais verfügen über integrierte Eingangswiderstände, wodurch eine direkte Spannungsansteuerung ohne zusätzliche externe Widerstände möglich ist. Dies reduziert die Anzahl der Bauteile, vereinfacht das PCB-Design und schafft zusätzlichen Platz für weitere Schaltungskomponenten.

Das kompakte Gehäuse unterstützt zudem eine hochdichte Bestückung, sodass mehrere Relais auf begrenztem Raum integriert werden können, ohne die Schaltzuverlässigkeit zu beeinträchtigen. Dies ist insbesondere für automatisierte Testsysteme relevant, bei denen viele Schaltpunkte auf engem Raum realisiert werden müssen.

Schalteigenschaften für Messanwendungen
Das TLP3407SRB unterstützt einen Nennstrom im eingeschalteten Zustand von bis zu 1 A. Die verwandten Bauteile – TLP3412SRB, TLP3412SRHB und TLP3412SRLB – bieten eine geringe Einschaltresistenz sowie schnelle Schaltzeiten, Eigenschaften, die für präzise Messanwendungen und automatisierte Schaltprozesse erforderlich sind.

Diese elektrischen Eigenschaften ermöglichen den Einsatz in Anwendungen, in denen ein stabiles Schaltverhalten und vorhersehbare Reaktionszeiten für präzise Testabläufe erforderlich sind.

Unterstützung kompakter Elektroniksysteme
Durch die Kombination aus erhöhter Temperaturbeständigkeit, integrierten passiven Komponenten und kompaktem Gehäuse adressiert die neue Photorelais-Serie typische Designanforderungen moderner elektronischer Systeme.

Die Bauteile unterstützen Entwicklungsingenieure bei der Realisierung kompakter und thermisch robuster Elektronikplattformen, insbesondere in Anwendungen, in denen eine Optimierung der Leiterplattenfläche und zuverlässige Schaltleistung erforderlich sind.

www.toshiba.com

Edited by industrial journalist, Aishwarya Mambet — AI-powered.