Tektronix präsentiert das parametrische Testsystem S530 mit KTE V7.1 Software zur Beschleunigung der Halbleiterchip-Produktion

Tektronix, ein weltweit führender Anbieter von Test- und Messlösungen, stellt heute die Software KTE V7.1 für das parametrische Testsystem der Serie S530 von Keithley vor und beschleunigt damit die Herstellung von Halbleiterchips - genau dann, wenn der Weltmarkt sie am meisten braucht.

Tektronix präsentiert das parametrische Testsystem S530 mit KTE V7.1 Software zur Beschleunigung der Halbleiterchip-Produktion.

Zu den neuen, mit der Version KTE V7.1 erstmals verfügbaren Optionen zählen eine neue Paralleltestfunktion sowie eine innovative Hochspannungs-Kapazitäts-Testoption für neue Leistungs- und Wide-Bandgap-Anwendungen. KTE V7.1 verkürzt die Testzeiten gegenüber KTE V5.8 um mehr als 10 Prozent. Ingenieure können also ihre Ausfallzeiten reduzieren und Chips schneller fertigen.

5G und das Wachstum des Internet der Dinge haben die globale Nachfrage nach Halbleitern angeheizt. Weltweite Engpässe erfordern nicht nur eine verstärkte Produktion, sondern auch schnellere Möglichkeiten zum Testen neu entwickelter Chips. Das neue Tektronix-Testsystem ermöglicht über verkürzte Testzeiten eine schnellere Produktion und beschleunigt so die Auslieferung neuer Chips auf den Markt.

„Die neuen analogen, Wide-Bandgap- (SiC und GaN) und Leistungshalbleitertechnologien von heute benötigen parametrische Tests zur Maximierung der Messleistung, zur Abdeckung eines breiten Produktmixes und zur Minimierung der Kosten“, sagt Peter Griffiths, General Manager, Systems & Software bei Tektronix. „Unsere Kunden wie die weltweit größten Chiphersteller profitieren von den Verbesserungen in KTE V7.1, mit denen Ingenieure Innovationen in noch nie dagewesenem Tempo entwickeln und so die Anforderungen der sich ändernden Märkte erfüllen können“.

Die neue Version KTE V7.1 baut auf den Funktions- und Durchsatzverbesserungen auf, die das S530-System seit der Veröffentlichung von KTE 7.0 erreicht hat. Das neue Prüfkopf-Design bietet Flexibilität bei der Verwendung unterschiedlicher Prüfkopf-Karten. Die aktualisierte Soft- und Hardware ermöglicht Single-Pass-Tests und hohen Durchsatz. Für den Service verkürzt die kürzlich vorgestellte System Reference Unit (SRU) die Kalibrierungszeit auf weniger als acht Stunden, so dass man eine Kalibrierung in einer regulären Arbeitsschicht abschließen kann. Die SRUs lassen sich direkt oder mit einem jährlichen SSO-Serviceplan erwerben.

Signifikante Verbesserungen und Neuheiten in der Branche

Parallele Testmöglichkeiten zur weiteren Produktivitätssteigerung und Senkung der Testkosten
Der S530 ist erstmals als Option in der Version KTE V7.1 erhältlich und verfügt nun über eine leistungsstarke Option für Paralleltests, die die Produktivität weiter steigert und die Testkosten mit einer geschätzten Einsparung von 30% (abhängig von Tests und Strukturen) senkt. Auf Basis der innovativen Hardware-Architektur des S530, mit der sich bis zu acht hochauflösende SMUs über jeden beliebigen Kelvin-Port bzw. jede beliebige Reihe im System mit jedem Test-Pin verbinden lassen, optimiert die Paralleltest-Software von Keithley die Effizienz aller Systemressourcen und maximiert den Testdurchsatz.

Innovative Hochspannungs-Kapazitätstests für neue Anwendungen in den Bereichen Power und Wide Bandgap
Hohe Spannungen sind für die Ingenieure von heute für den Bauelemente-Test unabdingbar. Es besteht eine wachsende Nachfrage nach Chips mit höheren Schaltgeschwindigkeiten und effizienteren Schaltvorgängen. Höhere Effizienz reduziert nicht nur den Stromverbrauch und die Wärmeentwicklung, sie ist auch besser für unsere Umwelt. Für den Test dieser Bauteile mit breitem Bandabstand bei höheren Betriebsspannungen wechseln Ingenieure vom F&E-Labor in die Fertigung. KTE V7.1 mit der Spezialoption HVCV (High Voltage Capacitance Voltage) ist ein innovatives Angebot. In Kombination mit der branchenweit einzigen Single-Pass-Prüflösung für Messungen zwischen 200V und 1000V lassen sich Kapazitäten mit einer Vorspannung von bis zu 1100V DC prüfen. Diese produktionsreife Fähigkeit ermöglicht präzise Messungen von Cdg, Cgs und Cds, die eine Charakterisierung und Prüfung der transienten Eingangs- und Ausgangsleistung eines Leistungsbauteils erlauben.

Tests mit bis zu 1100 V an jedem Pin mit einem einzigen Tastkopf-Touchdown
Neben der Fähigkeit, bis zu 1100V zu speisen und zu messen lassen sich bis zu zwei 2470 SMUs in einem S530-HV-System konfigurieren, und mithilfe der Hochspannungs-Schaltmatrix des S530-HV kann der Benutzer diese Messungen jederzeit an jedem Testpin durchführen. Dies sorgt für maximale Flexibilität und erfüllt die Pin-Out-Anforderungen einer Vielzahl von Prüflingen und -Strukturen. Zugleich entfallen die Durchsatzverzögerungen und höheren Kosten, die mit Tests in zwei Durchläufen oder dedizierten Pins verbunden sind.

Verfügbarkeit
Das parametrische Testsystem der Serie S530 ist ab sofort weltweit verfügbar. Preise erfahren Sie auf Anfrage. Weitere Informationen finden Sie unter tek.com/keithley-semiconductor-parametric-test-systems.

www.tek.com

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