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Keysight stellt isolierte Tastkopf-Technologie für die Messung schnell schaltender Leistungsbauteile vor

Ermöglicht genaue und sichere Messungen von potenzialfreien Schaltungen in verrauschten Hochspannungsumgebungen und bietet eine hervorragende Unterdrückung von hohen Gleichtaktspannungen und begleitendem Rauschen zur Isolierung kleiner, schnell schaltender Signale.

  www.keysight.com
Keysight stellt isolierte Tastkopf-Technologie für die Messung schnell schaltender Leistungsbauteile vor

Die isolierten differenziellen Tastköpfe von Keysight bieten eine bis zu 100 dB höhere Gleichtaktunterdrückung als herkömmliche differenzielle Tastköpfe.

Keysight Technologies hat eine optisch isolierte differenzielle Tastkopf-Familie entwickelt, die die Effizienz- und Leistungstests von schnell schaltenden Bauteilen wie GaN- und SiC-Halbleitern mit breiter Bandlücke verbessern soll.

Die Validierung von potenzialfreien Halb- und Vollbrückenarchitekturen, die häufig in Leistungswandlern, Motorantrieben und Wechselrichtern eingesetzt werden, erfordert die Messung kleiner Differenzsignale, die auf hohen Gleichtaktspannungen liegen. Diese Messung kann aufgrund von Schwankungen der Spannungsquelle im Verhältnis zur Masse, Rauschstörungen und Sicherheitsbedenken eine Herausforderung darstellen. Isolierte differenzielle Tastköpfe sind galvanisch isoliert und unterdrücken Gleichtaktspannungen, sodass Entwickler von Leistungselektronik in der Lage sind, potenzialfreie Schaltungen in Hochspannungs- und Störungsumgebungen genau und sicher zu messen. Die Technologie wird den Fortschritt bei Effizienz- und Schaltverlusttests für Hochspannungsanwendungen wie Elektrofahrzeuge, Solarenergie, Batteriemanagementsysteme und mehr vorantreiben.

Die isolierten differenziellen Tastköpfe von Keysight bieten eine bis zu 10 Milliarden Mal höhere Gleichtaktunterdrückung als herkömmliche differenzielle Tastköpfe und sind damit ideal für Hochspannungsmessungen auf der High Side. Mit einer Bandbreite von bis zu 1 GHz und einem Differenzspannungsbereich von ±2.500 V ermöglichen diese Tastköpfe eine genaue Analyse von schnell schaltenden GaN- und SiC-Bauteilen.

Robert Saponas, Vice President und General Manager des Digital and Photonics Center of Excellence von Keysight, sagte: „Keysight hat erkannt, dass die Zukunft der Leistungs-ICs über das Mooresche Gesetz hinausgeht, und wir sind bestrebt, unsere Kunden mit der besten Leistungs-Testtechnologie für ihren nächsten Durchbruch auszustatten. Die Einführung der isolierten Tastköpfe von Keysight erweitert unser Angebot an Power-Lösungen, die die Arbeitsabläufe unserer Kunden beim Testen von Leistungsintegrität, Versorgung und Effizienz rationalisieren.“

Weitere Informationen

www.keysight.com

 

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